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【是德科技感恩月征文】USB Debug之“眼圖惡化”分析
眼圖測(cè)試可以在高速數(shù)字電路中讓我們直觀的觀察信號(hào)質(zhì)量,是SI的圖形化顯示;關(guān)于眼圖的概念和定義大家可以自行百度,咱們就不在這邊浪費(fèi)篇
發(fā)布時(shí)間:2018-03-28關(guān)鍵詞:感恩月 -
那些歐洲的小眾儀器品牌
發(fā)布時(shí)間:2018-01-16關(guān)鍵詞:測(cè)試儀器