1.引言
在微波無源器件調試過程中，我們常常使用矢量網絡分析儀（以下簡稱矢網）測試器件的S參數，最常分析的就是反射系數和傳輸系數幅度和相位。由于我們通常只會用到矢量網絡分析儀的兩個端口，所以對于多端口微波器件的測量就會用到寬帶的匹配負載，也就是當器件中的兩個端口與矢網的端口1和端口2連接之后，其余的所有的端口應當接上匹配負載，除非另做他用。
2.平面Rotman透鏡的測量
圖1 平面Rotman透鏡的測量
采用矢網對該透鏡進行測量時，輸入端口1~7依次與矢量網絡分析儀的端口1相連接，輸出端口8~17依次與矢網的端口2連接，且其余輸出端口連接同軸匹配負載。經測量得到端口1~7輸入時端口8~17的輸出幅相數據，為了驗證仿真設計方法的有效性，將實測結果與仿真結果對比如下：
圖2 Rotman透鏡反射系數
圖3 端口1饋電時輸出幅相（10GHz）
圖4 端口4饋電時輸出幅相（10GHz）
結果分析：
1）從反射系數來看，仿真和測量結果有一定的差異，在9~11GHz的頻帶內，反射系數都低于-10dB，阻抗帶寬較寬；
2）從幅相數據來看，低副瓣Rotman透鏡的實測的輸出幅度明顯低于仿真結果，當端口1輸入時，實測與仿真的輸出相位差別也比較大；
3）實測幅相數據由于幅度不對稱，幅度椎削達不到要求，副瓣性能惡化較為嚴重，且輸出幅度較小，會降低天線陣列的增益。
分析以上結果可知實物測量得到的性能較差，主要原因是由于Rotman透鏡壓合帶來的加工誤差，從定位孔來看，有一定偏移，這樣會造成耦合縫有一定遮擋，影響耦合能量的大小，且會對相位造成影響。
3.多波束天線的測量
圖6 多波束縫隙陣列天線系統
將上述系統置于微波暗室中進行遠場測量，測量時矢網的端口1接上X波段的標準喇叭天線，端口2通過長線纜接上遠端的多波束天線，通過單片機控制不同的輸入端口形成指向不同的波束，測量結果如圖7所示，從圖中可以看出在9.8GHz、10GHz和10.2GHz時，輸入端口1～7分別饋電形成的波束指向分別為-31°、-21°、-11°、0°、11°、21°、31°，副瓣電平都在-10dB以下，隨頻率變化波束指向幾乎不發生的改變。邊緣波束（端口1）相對于中間波束（端口4）增益下降小于3dB左右，在實際的測量中，由于縫隙陣列天線中波導之間存在互耦，當掃描角度增加時互耦增強，也會導致輸入阻抗失配，從而使增益下降。
圖7 多波束縫隙陣列天線實測E面方向圖
4. 總結
上述的微波器件或者天線系統都可以通過是德科技的矢網完成測量，測量過程中需要注意的是：在測量前最好要按照工作頻率對矢網進行校準，由于矢網剛啟動時溫度較低，最好等待一段時間待噪聲穩定之后再進行測量。
有趣、有料、有驚喜——是德感恩月第三季
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