物理學(xué)報  2001, Vol. 50  Issue (5): 938-941

李宏成1, 王瑞蘭1, 魏斌2
(1)中國科學(xué)院物理研究所超導(dǎo)國家實驗室,北京100080; (2)中國科學(xué)院物理研究所超導(dǎo)國家實驗室,北京100080;清華大學(xué)物理系在讀博士研究生
ERROR ANALYSIS FOR MEASUREMENTS OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF HIGH-TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS BY DIELECTRIC RESONATOR METHOD 
LI HONG-CHENG1, WANG RUI-LAN1, WEI BIN2

摘要： 用微擾法研究了兩端接地型藍(lán)寶石介質(zhì)諧振器測量高溫超導(dǎo)薄膜微波表面電阻RS的誤差與幾何結(jié)構(gòu)和工作頻率的關(guān)系.結(jié)果表明,介質(zhì)柱直徑與高度之比2a/L,金屬屏蔽腔內(nèi)半徑與介質(zhì)柱半徑之比b/a以及工作頻率f對測量誤差和最小可測表面電阻Rsmin有很大影響.所得到的曲線可用于藍(lán)寶石介質(zhì)諧振器的設(shè)計中.結(jié)果還表明,適當(dāng)選取2a/L,b/a與f可使測量誤差接近于1%,最小可測表面電阻Rsmin可達(dá)到微歐姆的數(shù)量級.這對于高溫超導(dǎo)薄膜的檢測和微波器件應(yīng)用說

引用本文:   
李宏成,王瑞蘭,魏斌. 介質(zhì)諧振器法測量高溫超導(dǎo)薄膜微波表面電阻的誤差分析. 物理學(xué)報, 2001, 50(5): 941. 
Cite this article:   
LI HONG-CHENG,WANG RUI-LAN,WEI BIN. ERROR ANALYSIS FOR MEASUREMENTS OF MICROWAVE SURFACE RESISTANCE OF HIGH-TEMPERATURE SUPERCONDUCTORS BY DIELECTRIC RESONATOR METHOD . Acta Phys. Sin., 2001, 50(5): 938-941. 

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