GB/T 22586-2008 高溫超導(dǎo)薄膜微波表面電阻測(cè)試
| 資料語(yǔ)言: | 簡(jiǎn)體中文 |
| 資料類別: | PDF文檔 |
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| 更新時(shí)間: | 2013-06-22 09:27:43 |
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- 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 22586-2008
- 標(biāo)準(zhǔn)名稱:高溫超導(dǎo)薄膜微波表面電阻測(cè)試
- 行業(yè)分類:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB)
- 中標(biāo)分類:金屬物理性能試驗(yàn)方法(H21)
- ICS分類:77.040.99
- 標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在微波頻率下利用雙諧振器法測(cè)試超導(dǎo)體表面電阻的方法。測(cè)試目標(biāo)是在諧振頻率下Rs隨溫度的變化。
- 英文名稱:Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
- 發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
- 發(fā)布日期:2008-12-15
- 實(shí)施日期:2009-05-01
- 首發(fā)日期:2008-12-15
- 提出單位:中國(guó)科學(xué)院
- 歸口單位:全國(guó)超導(dǎo)標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
- 主管部門:中國(guó)科學(xué)院
- 起草單位:電子科技大學(xué)、清華大學(xué)、南京大學(xué)等
- 起草人:羅正祥、劉宜平、李宏成、吉爭(zhēng)鳴、鄭東寧、許偉偉、張其劭、魏斌、曾成
- 計(jì)劃單號(hào):20032460-T-491
- 頁(yè)數(shù):24頁(yè)
- 出版社:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
- 出版日期:2009-03-01
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