近日，中國航天科工二院203所成功研制出多通道頻標比對裝置，解決了高指標原子頻標產(chǎn)品的測試問題。該裝置在性能上已經(jīng)達國際同類產(chǎn)品水平，填補了國內(nèi)同類測試設(shè)備空白。

該裝置主要用于高指標原子頻標頻率穩(wěn)定特性測試，晶體頻標、電子儀器設(shè)備中的晶體振蕩器、頻率合成器等頻率源之間頻率穩(wěn)定特性測試，以及放大器、倍頻器等二端口部件的附加頻率不穩(wěn)定性測試，具有技術(shù)指標高、技術(shù)方案先進、方便易用、多通道、可維修性高、可擴展性強等優(yōu)點，能夠滿足高指標頻率穩(wěn)定度的測試需求，應(yīng)用前景廣闊。

同時，該裝置還在北斗二代二期心臟星載銣鐘進行可靠性和穩(wěn)定性測試中發(fā)揮了舉足輕重的作用。