近日，中國(guó)航天科工二院203所成功研制出多通道頻標(biāo)比對(duì)裝置，解決了高指標(biāo)原子頻標(biāo)產(chǎn)品的測(cè)試問(wèn)題。該裝置在性能上已經(jīng)達(dá)國(guó)際同類(lèi)產(chǎn)品水平，填補(bǔ)了國(guó)內(nèi)同類(lèi)測(cè)試設(shè)備空白。

該裝置主要用于高指標(biāo)原子頻標(biāo)頻率穩(wěn)定特性測(cè)試，晶體頻標(biāo)、電子儀器設(shè)備中的晶體振蕩器、頻率合成器等頻率源之間頻率穩(wěn)定特性測(cè)試，以及放大器、倍頻器等二端口部件的附加頻率不穩(wěn)定性測(cè)試，具有技術(shù)指標(biāo)高、技術(shù)方案先進(jìn)、方便易用、多通道、可維修性高、可擴(kuò)展性強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)，能夠滿足高指標(biāo)頻率穩(wěn)定度的測(cè)試需求，應(yīng)用前景廣闊。

同時(shí)，該裝置還在北斗二代二期心臟星載銣鐘進(jìn)行可靠性和穩(wěn)定性測(cè)試中發(fā)揮了舉足輕重的作用。