主辦單位: | Keysight Technologies(是德科技) |
舉辦時(shí)間: | 2015年4月17日9:00 –17:00 |
舉辦地址: | 是德科技北京辦公室二層培訓(xùn)教室2(北京市朝陽區(qū)望京北路3號) |
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為進(jìn)一步增進(jìn)各行業(yè)工程師和Keysight Technologies(是德科技)公司的相互交流,幫助客戶解決更多測試測量上的疑惑,是德科技特別邀請來自公司總部的網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品部門首席科學(xué)家Joel Dunsmore訪問北京,在是德科技北京辦公室舉行網(wǎng)絡(luò)分析儀應(yīng)用高級技術(shù)研討會。
演講嘉賓介紹:
Joel Dunsmore 1983年畢業(yè)于俄勒岡州立大學(xué),獲得電子學(xué)碩士學(xué)位,同年加入惠普公司工作。Joel在2014年從利茲大學(xué)獲得了博士學(xué)位。在2008年他被任命為安捷倫科技研發(fā)部的首席科學(xué)家,并且在網(wǎng)絡(luò)分析儀部門工作。他是HP 8753系列網(wǎng)絡(luò)分析儀及Agilent PNA-X系列網(wǎng)絡(luò)分析儀的架構(gòu)工程師,并且負(fù)責(zé)該系列產(chǎn)品的所有微波射頻電路的設(shè)計(jì),這兩個(gè)系列的網(wǎng)絡(luò)分析儀產(chǎn)品已經(jīng)成為業(yè)界的經(jīng)典及里程碑。最近,他投身于非線性測試的研究,包括差分器件的測試及混頻器測試。至今他一共獲得了24項(xiàng)專利,并且發(fā)表了大量具有高影響力的測試論文。除了本職工作,他還在加州大學(xué)伯克利分校教授一些短期的射頻電路課程。
日程安排:
9:00-12:00
· 基于PNA-X的無源和有源器件的現(xiàn)代測量方法(同軸或在片器件在單次連接下的多種測量,包含S參數(shù)、增益壓縮、三階交調(diào)、噪聲系數(shù)等)
· PNA-X的混頻器群時(shí)延測試技術(shù)(著重討論窄帶寬、嵌入式本振和低信噪比狀態(tài)下進(jìn)行高精度測試)
· 最新的網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)嵌頻譜分析功能的講解及演示
12:00-13:00 午餐
13:00-17:00
· PNA-X矢量誤差修正的噪聲系數(shù)測量(精確測量0~60 dB的噪聲系數(shù))
· 差分和IQ器件的測量(包含差分放大器的諧波測試以及差分和IQ混頻器的測試)
· 測試夾具問題的解決方案
時(shí)間地點(diǎn)、聯(lián)系方式:
時(shí)間:2015年4月17日9:00 –17:00
地點(diǎn):是德科技北京辦公室二層培訓(xùn)教室2
地址:北京市朝陽區(qū)望京北路3號
電話:010-64397424
Email:openlab.bj#keysight.com
活動(dòng)報(bào)名方式:請直接聯(lián)系您的是德科技銷售工程師或與北京開放實(shí)驗(yàn)室聯(lián)系,提前預(yù)約。