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芯片的可測性設計DFT
解決芯片測試的根本方法是在芯片設計時就充分考慮到測試的要求,即在設計階段就開始考慮如何對電路進行測試,并將一些可測性技術(shù)引入到芯片中,以降低測試方法的復雜性,...
發(fā)布時間:2021-02-23關(guān)鍵詞:芯片測試 -
相位噪聲的兩種定義與測試方法簡述
相位噪聲是非常重要的射頻指標。在通信系統(tǒng)中,相位噪聲會影響矢量調(diào)制信號的矢量調(diào)制誤差并惡化誤碼率。在雷達應用中,相位噪聲會影響雷達相參處理增益和雜波抑制能力。...
發(fā)布時間:2020-12-28關(guān)鍵詞:相位噪聲 -
淺析矢量網(wǎng)絡分析儀誤差模型及校準
最近跟業(yè)界一位同仁討論了矢量網(wǎng)絡分析儀的誤差模型及校準過程,簡單整理了一下,分享給大家,歡迎一起討論。
發(fā)布時間:2020-11-25關(guān)鍵詞:矢量網(wǎng)絡分析儀