網(wǎng)站首頁 > 技術文庫 > 測試與測量 >
-
芯片的可測性設計DFT
解決芯片測試的根本方法是在芯片設計時就充分考慮到測試的要求,即在設計階段就開始考慮如何對電路進行測試,并將一些可測性技術引入到芯片中,以降低測試方法的復雜性,...
發(fā)布時間:2021-02-23關鍵詞:芯片測試 -
淺析矢量網(wǎng)絡分析儀誤差模型及校準
最近跟業(yè)界一位同仁討論了矢量網(wǎng)絡分析儀的誤差模型及校準過程,簡單整理了一下,分享給大家,歡迎一起討論。
發(fā)布時間:2020-11-25關鍵詞:矢量網(wǎng)絡分析儀