電子校準件是從根本上來說是一種非常穩定的器件。如果連接、儲存和處理方法正確的話，電子校準件在校準周期內使用時可以達到保證的技術指標。但是極端的環境、過大的輸入和不正確的處理方法都會降低其穩定性和可重復性。連接器損壞可能會顯著影響測量精度。

隨著校準周期的延長

電子校準件超差（OOT）現象越來越多

下面是是德科技通過分析客戶的2000個電子校準件之后得到的案例分析結果：超過三年沒有經過校準的電子校準件與每12個月校準一次的電子校準件相比，OOT比率高3倍。

VNA測量結果

開始變得不準確

史密斯圓圖顯示了處于容限范圍內外的電子校準件

上圖顯示了已經出現超差(OOT)的電子校準件對VNA測量結果的影響。藍色曲線表示使用正常的電子校準件獲得的測量結果。橙色曲線表示使用已經出現超差的電子校準件獲得的測量結果。這個已經出現超差的電子校準件存在連接器缺陷，而且五年沒有經過校準。注意，橙色曲線發生位移，而且有一部分超出了史密斯圓圖。如果您的VNA使用這個電子校準件，那么測量結果會出現明顯的誤差。

重點來了！

產生這些OOT(校準超差)的原因，一個是電子校準件內部標準發生了變化，另一個是不正確的處理方式導致連接器受到損壞。

· 內部標準：電子校準件阻抗標準件的特征受老化率、漂移等因素的影響會發生變化。為了達到電子校準件的性能技術指標，必須定期更新電子校準件內置存儲器中保存的阻抗標準件S參數數據。

· 連接方式：有缺陷或受到損壞的連接器會降低電子校準件的性能，進而影響您的測量結果的準確性。下圖顯示了完好連接器與受損連接器的對比示例。

該怎么辦？

我們如何得知電子校準件的實際性能？

· 堅持每12 個月校準一次電子校準件

定期更新電子校準件內置存儲器中保存的阻抗標準件S 參數數據。在校準服務期間，原廠技術人員還會用肉眼、借助機械、以及使用電子工具來檢查連接器，然后清潔連接器。