ADI（亞德諾半導體）高級系統應用工程師Rob Reeder：“當然，這是必須考慮的”。

串擾可能來自幾種途徑

從印刷電路板(PCB)的一條信號鏈到另一條信號鏈，從IC中的一個通道到另一個通道，或者是通過電源時產生。理解串擾的關鍵在于找出其來源及表現形式，是來自相鄰的轉換器、另一個信號鏈通道，還是PCB設計？

三種串擾測試方式

第一種

最典型的串擾測試稱為相鄰串擾。這種串擾的表現形式是，當某個通道被以滿量程或接近滿量程驅動時，“被觀察”的通道或信號鏈處于開放狀態，即無信號注入。測量輸出頻譜時，可以在開放通道上觀察到高于本底噪聲的雜散。這種串擾定義了開放的受體通道和被驅動的干擾源通道之間的隔離。

有時，開放通道具有足夠的魯棒性，可以抑制來自一個被驅動通道的交叉耦合，但這只是一部分的抗串擾能力。

第二種

另一種串擾測試是以相同的頻率驅動系統中除一個通道外的其他所有通道，剩余的一個通道保持開放狀態。此時，所有干擾源的強度都通過開放通道來測量。

第三種

測量串擾的第三種方法是以不同的頻率和信號強度驅動兩個或兩個以上的通道，通過測試開放通道，觀察是否有被驅動通道產生的交叉耦合混頻產物的泄漏。此時，通過混頻效應，可以看到干擾源信號如何回落至目標頻帶。

最后，這三種測量方法都可以在輸入信號超量程(超過器件或信號鏈的滿量程)的情況下重復進行，有助于確定輸入信號被鉗位或通道飽和時開放通道的魯棒性。

↑ 上述測試均應涵蓋應用的整個目標信號范圍和頻率范圍，因為串擾有時會由PCB 設計不佳而引起，或在特定的工作條件下表現出來。更換器件沒有什么幫助，轉換器或多通道器件必須經過全面測試，以確保足夠的魯棒性，從而滿足您的應用。

作者：Rob Reeder，ADI高級系統應用工程師

作者簡介

Rob Reeder是ADI公司（美國北卡羅來納州格林斯博羅）工業與儀器儀表部門高級系統應用工程師，負責防務和航空航天應用，發表了大量有關各種應用的轉換器接口、轉換器測試和模擬信號鏈設計的論文。Rob曾在高速轉換器產品線上擔任應用工程師8年之久。在此之前，Rob還擔任過ADI多芯片產品業務的測試開發和模擬設計工程師，擁有5年的太空、防務和高度可靠的應用模擬信號鏈模塊設計經驗。Rob于1996年和1998年分別獲得北伊利諾斯州大學（迪卡爾布市）的電子工程學士（BSEE）學位和電子工程碩士（MSEE）學位。