集成電路表征和分析程序(IC-CAP)

集成電路表征和分析程序(IC-CAP)是一種最先進(jìn)的可定制建模軟件，并包括測(cè)量、仿真、優(yōu)化和統(tǒng)計(jì)分析工具。ICCAP能夠提取高速/數(shù)字、模擬和功率射頻應(yīng)用軟件中所使用的精確而緊湊的模型。當(dāng)前，大多數(shù)領(lǐng)先的半導(dǎo)體制造商和集成器件制造商(IDM)都是采用IC-CAP對(duì)芯片CMOS、Bipolar、混合砷化鎵(GaAs)、氮化鎵(GaN)以及其他器件技術(shù)進(jìn)行建模。

半導(dǎo)體制造商面臨的挑戰(zhàn)

隨著半導(dǎo)體技術(shù)日益發(fā)展，如何不斷提高產(chǎn)品性能和良率，以及如何縮短產(chǎn)品上市時(shí)間成為半導(dǎo)體制造商面臨的最大挑戰(zhàn)。隨之產(chǎn)生的針對(duì)器件建模的要求也日益提高。

首先隨著器件尺寸不斷縮小，精準(zhǔn)的器件建模以及對(duì)制程的工藝波動(dòng)的監(jiān)測(cè)和控制變得尤為重要，這對(duì)器件測(cè)量的效率和精度提出更高的要求。往往基于建模或者工藝監(jiān)測(cè)的PCM(Process Control Monitor)測(cè)量需要耗費(fèi)幾小時(shí)甚至幾天的時(shí)間，如何在不損耗測(cè)量精度的前提下更有效率的自動(dòng)測(cè)量成為器件建模的首要問(wèn)題。

同時(shí)對(duì)于應(yīng)用在射頻領(lǐng)域的器件來(lái)說(shuō)，器件的建模早已超越單純的DC建模流程，精準(zhǔn)的RF建模成為器件全方位特性描述的必要環(huán)節(jié)。
 
此外由于工藝的多樣性，單一固定的模型提取流程往往很難滿足對(duì)模型提取效率和精度的雙重要求。因此如何方便靈活的編寫(xiě)基于特定工藝的器件提取流程也成為建模的關(guān)鍵需求。
 
IC-CAP主要優(yōu)勢(shì)
IC-CAP開(kāi)放靈活的軟件框架

—— 不僅支持強(qiáng)大的PEL 編程提取語(yǔ)言，而且最新支持廣泛使用的Python語(yǔ)言，是業(yè)內(nèi)唯一允許用戶方便靈 活的創(chuàng)建自己的模型提取流程及編寫(xiě)全自動(dòng)測(cè)量計(jì)劃的平臺(tái)

——IC-CAP 圖形界面工作室(GUI Studio)可以支持用戶自由創(chuàng)建自定義用戶圖形界面。與PEL 語(yǔ)言結(jié)合用戶完全可以自己創(chuàng)建一鍵式的自定義建模平臺(tái)
——SQL數(shù)據(jù)庫(kù)鏈接提供與MySQL和SQLite數(shù)據(jù)庫(kù)的鏈接，可以查詢或?qū)aferPro的測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入IC-CAP以完成建模

最先進(jìn)的半導(dǎo)體自動(dòng)測(cè)試解決方案WaferPro

—— 在多個(gè)溫度變化范圍內(nèi)進(jìn)行全自動(dòng)單晶圓和多晶圓測(cè)量
—— 為最常見(jiàn)的探針臺(tái)、開(kāi)關(guān)矩陣和熱控夾具提供驅(qū)動(dòng)程序
—— 包括許多預(yù)定義的實(shí)例測(cè)試方案，可以快速、輕松、高效地開(kāi)始測(cè)試
—— 無(wú)需操作人員監(jiān)管，晶圓可隨溫度變化自動(dòng)進(jìn)行調(diào)整；無(wú)需中斷測(cè)試，即可實(shí)時(shí)查看測(cè)量結(jié)果、狀態(tài)、數(shù)據(jù)和圖表
—— 在執(zhí)行過(guò)程中監(jiān)測(cè)位置、狀態(tài)、結(jié)果和數(shù)據(jù)；通過(guò)電子郵件接收更新
—— 按照用戶定義的合格/不合格標(biāo)準(zhǔn)，完美地進(jìn)行異常處理
—— 先進(jìn)的體系結(jié)構(gòu)支持有效的數(shù)據(jù)組織以及快速的數(shù)據(jù)分析和處理
—— 優(yōu)越的廣度和兼容性：測(cè)試方案可以在各種測(cè)試平臺(tái)中無(wú)縫運(yùn)行；支持廣泛的DC/CV和RF測(cè)量；能夠測(cè)量任何n端接器件(MOS、二極管、無(wú)源器件等)；能夠以多種文件格式(.mdm 和.csv)保存
—— 具有模擬測(cè)試模式(模擬測(cè)量而不是真實(shí)測(cè)量)和后期處理模式，以提高測(cè)試和開(kāi)發(fā)的靈活性
—— 擁有強(qiáng)大的調(diào)試模式，以進(jìn)一步支持定制和測(cè)試

強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理與分析功能DataPro

—— 完全集成于建模流程
選擇典型、邊緣die 或?qū)?shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。集成于從多點(diǎn)或掃描測(cè)量到建模的整個(gè)流程。
—— 節(jié)省時(shí)間并最大限度地減少錯(cuò)誤
無(wú)需向Excel 等其他工具中導(dǎo)出數(shù)據(jù)。使用IC-CAP 文件數(shù)據(jù)和IC-CAP SQL 數(shù)據(jù)庫(kù)。
—— 高靈活性
內(nèi)置自動(dòng)數(shù)據(jù)評(píng)估和分類(lèi)算法。針對(duì)多點(diǎn)或掃描數(shù)據(jù)，根據(jù)多種條件進(jìn)行數(shù)據(jù)選擇，支持用戶定義條件加權(quán)，可選擇多種誤差描述公式。
—— 易于使用
自動(dòng)查找并去除異常，自動(dòng)計(jì)算統(tǒng)計(jì)分布邊緣數(shù)據(jù)并查找出相應(yīng)的die。
—— 精確
支持全曲線數(shù)據(jù)分析，與點(diǎn)數(shù)據(jù)分析相比，曲線數(shù)據(jù)分析可以提供更精確的統(tǒng)計(jì)分布信息。
 
強(qiáng)大的工具包
IC-CAP一鍵式模型提取工具包

所有模型提取工具包都包括完整的DC/CV/RF測(cè)量、提取和模型驗(yàn)證流程，用戶可以真正實(shí)現(xiàn)一鍵式完成所有器件特性的建模流程。

NeuroFET模型工具包

Keysight NeuroFET模型使用人工神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(ANN)來(lái)描述測(cè)量狀態(tài)。允許用戶執(zhí)行所有有助于模型提取的直流測(cè)量和S參數(shù)測(cè)量。專(zhuān)用的采集程序可避免大功率條件下測(cè)量過(guò)程中發(fā)生的器件特性退化。

Angelov GaN模型工具包

Angelov GaN模型基于Angelov模型，并且針對(duì)GaN特性進(jìn)行特別優(yōu)化。是德科技Angelov GaN模型工具包是業(yè)界唯一的Angelov GaN建模解決方案，內(nèi)置完整的器件測(cè)量模塊和模型提取模塊。

DynaFET模型工具包

DynaFET是Keysight專(zhuān)有非線性模型，基于人工神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)技術(shù)(ANNs)適用于射頻功率放大器應(yīng)用中的GaN/GaAs建模。


 
如此強(qiáng)大的IC-CAP將與您攜手并肩，共同迎戰(zhàn)半導(dǎo)體制造中的挑戰(zhàn)！
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