無論是采用何種掃描形式，測量常規非掃描天線方向圖，都希望探頭的極化純度高、弱方向性且前向無零點。滿足這幾個條件的理想探頭為偶極子和開口波導^[9]。由于測試系統動態范圍限制，因此用這種探頭測量低副瓣天線會引入較大的測量誤差。所以Grimm 等人^[10]提出了用“零探頭” 的方法進行測量，Hannssen等人^[11]用此方法對副瓣為-49dB的天線進行了測量，并與直接遠場法測量結果進行了比較，其結論是“零探頭” 的測量結果更接近于理論值。

4、誤差分析

近場測量系統是個復雜的系統，對天線測量有影響的誤差源有18項之多，按其產生的原因可分為四個方面：
· 理論計算式及數值計算所產生的誤差；
· 測試儀表及設備產生的誤差；
· 環境產生的誤差；
·探頭天線所產生的誤差，

對于平面掃描的情況，這些誤差對天線參數影響的上界已由Newell等人給出了解析表達式^[7,12-14]，并由Jensen等人進行計算機模擬^[10,15]；

對于柱面和球面掃描，過些誤差源對天線電參數的影響的誤差上界尚未完成。表3給出了平面近場測量系統的典型的誤差值及影響的電參數。其中理論公式和計算引入的誤差只要按表2準則進行選取取樣間隔和間距，則這些誤差可以忽略不計。

表3 平面近場測量的誤差(平均值)

三、近場測量技術的現狀

分布及性能指標

從70年代后期，近場測量技術已走向適用化，據不完全統計世界已有五十多家研究機構相繼建立了近場測量系統，如表4所示，它們的功能和部分技術指標如表5所示。

表4 近場測量系統的分布