第四屆IEC國(guó)際會(huì)議暨M(jìn)EMS標(biāo)準(zhǔn)研討會(huì)在成都召開(kāi)
近日,第四屆IEC(International Electrotechnical Commission)國(guó)際會(huì)議暨M(jìn)EMS標(biāo)準(zhǔn)研討會(huì)在成都召開(kāi)。本次國(guó)際會(huì)議由中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第十三研究所、中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院和中機(jī)生產(chǎn)力促進(jìn)中心發(fā)起,由電子科技大學(xué)物理電子學(xué)院承辦,共邀請(qǐng)了40余位來(lái)自德國(guó)、韓國(guó)、日本和中國(guó)的IEC標(biāo)準(zhǔn)工作組技術(shù)專(zhuān)家匯聚成都,對(duì)半導(dǎo)體傳感器微波半導(dǎo)體器件、MEMS材料和器件的標(biāo)準(zhǔn)化進(jìn)行探討,加強(qiáng)相關(guān)領(lǐng)域標(biāo)準(zhǔn)化的討論與交流。
IEC會(huì)議主席野村淳二(Junji Nomura)在會(huì)議中講到,這次會(huì)議是自1957年中國(guó)加入IEC以來(lái),第四次在中國(guó)舉辦。IEC希望通過(guò)本次會(huì)議加快國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)制定的進(jìn)程,促進(jìn)中國(guó)專(zhuān)家更多地參與到標(biāo)準(zhǔn)化工作中。在工作組會(huì)議中,IEC標(biāo)準(zhǔn)工作組技術(shù)專(zhuān)家對(duì)微波半導(dǎo)體器件、二極管、雙極型晶體管、微波集成電路放大器標(biāo)準(zhǔn)發(fā)展情況進(jìn)行了介紹,對(duì)MEMS傳感器國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)提案進(jìn)行了討論,對(duì)標(biāo)準(zhǔn)草案進(jìn)行了修改;另外,會(huì)議還制定了最新的MEMS術(shù)語(yǔ)和通用規(guī)范,就半導(dǎo)體傳感器材料和結(jié)果特性實(shí)驗(yàn)方法、器件封裝、標(biāo)準(zhǔn)維護(hù)進(jìn)行了探討。
在MEMS標(biāo)準(zhǔn)研討會(huì)上,來(lái)自中日韓的專(zhuān)家分別做學(xué)術(shù)報(bào)告。日本微型機(jī)械中心主任Yuichi Sakai博士做關(guān)于“智能傳感和接口標(biāo)準(zhǔn)化”報(bào)告(Standardization about the Smart Sensing and Interface),講解了標(biāo)準(zhǔn)化對(duì)智能傳感和接口的目的和重要性;來(lái)自日本綠色電子研究中心的Nobuyuki Shishido博士做題為“用于發(fā)現(xiàn)柔性MEMS器件關(guān)鍵失效點(diǎn)的彎曲試驗(yàn)方法”(Bending Test Method to Find Critical Points to Failures for Flexible MEMS Devices)的報(bào)告,以可彎曲晶體管、有機(jī)薄膜晶體管為例,闡述了可彎曲材料的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法;來(lái)自韓國(guó)西江大學(xué)的Junchul Lee教授在其報(bào)告中分享了共振質(zhì)量傳感器的特性(Characterization of Resonant Mass Sensors);來(lái)自工信部電子四院的李博博士在報(bào)告中提出了MEMS 芯片通用技術(shù)要求(General Technical Requirement for MEMS Chips)。(高潔)
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IEC國(guó)際電工委員會(huì)是世界標(biāo)準(zhǔn)化組織之一,負(fù)責(zé)制定電工電子領(lǐng)域的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。IEC TC47是半導(dǎo)體器件技術(shù)委員會(huì),IEC TC47/SC47E是半導(dǎo)體分立器件分技術(shù)委員會(huì),負(fù)責(zé)制定微波器件、傳感器、二極管、雙極型晶體管、場(chǎng)效應(yīng)晶體管、激光器、光電子器件等標(biāo)準(zhǔn),IEC TC47/SC47F是MEMS分技術(shù)委員會(huì),負(fù)責(zé)制定MEMS材料、封裝、器件標(biāo)準(zhǔn),標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容主要包括術(shù)語(yǔ)、基本額定值和電特性、測(cè)試方法、試驗(yàn)方法、總規(guī)范等。
來(lái)源:電子科技大學(xué)物理電子學(xué)院