一年一度的安捷倫測試測量大會是您見證安捷倫科技70年的技術飛躍與爍世貢獻的盛會，今年的主題是“推動無線和數(shù)字領域的協(xié)作與創(chuàng)新”。從“泛在網絡（ubiquitous networking）”的全面測試方案，到3G-4G的無線測試大全；從高速數(shù)字技術的深入解析，到復雜電路的自動化設計程序；從航空航天的尖端測試設備，到國防科技的集中專題探討；從DANL可逼近到-172dBm理論極限值的高端頻譜分析儀，到基于PNA-X的非線性網絡測試劃時代的創(chuàng)新產品；從復雜電磁環(huán)境下的信號監(jiān)測，到高速數(shù)字總線的測試方案…… 這是一次遨游科技迷宮一樣的高集成度科技與測試專業(yè)課題年度研討大會。

今年的 “安捷倫測試測量大會” 將有別于您以往參與的專題會議或技術培訓，安捷倫科技將會引入更深入的探討模式 – 分論壇（Sub-Forum），設立更全面的現(xiàn)場展示環(huán)節(jié)（Live Demo Fair），以及力邀業(yè)界權威講師與安捷倫科技全球范圍各應用領域內的資深技術專家、經驗豐富工程師共同為您現(xiàn)場講解與演示。
本次大會內容豐富，上午將著重介紹2010年度安捷倫在電子測試測量方面的創(chuàng)新產品和測量解決方案，下午會側重不同的應用方向分為三個子論壇，展現(xiàn)最新的安捷倫測試專題。請詳閱如下的日程安排，與此同時，全天還會有獨立展示臺展出各種各樣的應用測試演示方案。因為2010安捷倫測試大會 – 深圳站，實在是如星月交輝般難得一見的綜合性測試測量產品與方案與高新科技交匯的盛事。安捷倫作為測試行業(yè)的技術領導者，作為您最值得信賴的合作伙伴，將與您并肩開創(chuàng)嶄新的大時代！感謝您一如既往的支持！我們將繼續(xù)站在科技發(fā)展的最前沿，為行業(yè)提供最優(yōu)異最快速的測試測量技術與優(yōu)質服務。

內容摘要

安捷倫電子測試測量技術綜述及最新測試技術動態(tài)

電子技術進步帶來新的發(fā)展空間，同時也給研發(fā)測試部門帶來挑戰(zhàn)。測試儀表是先進技術開發(fā)的重要技術資源，新的測試技術和測試儀表的推出不僅能提高參數(shù)測試的速度和精度，更重要的是現(xiàn)在新的儀表能為產品開發(fā)提供新的技術途徑。安捷倫新推出的很多儀表正在改變很多傳統(tǒng)儀表的功能定義和應用方法。本專題將由資深的測量行業(yè)專家為您介紹最新的測試技術動態(tài)發(fā)展。

數(shù)字測量的劃時代突破 - 基于磷化銦InP技術的下一代示波器DSA- X 90000 系列新產品

安捷倫基于磷化銦InP技術的下一代示波器DSA- X 90000 系列新產品介紹從事高能物理、新興有線通信標準和高速串行數(shù)據(jù)鏈路（例如 USB、SAS、PCI Express.）相關工作的工程師經常需要使用示波器捕獲快速的或偶發(fā)單次事件，進行關鍵的測試與測量（例如抖動測試測量），從而同時必須確保產品符合行業(yè)互通操作性標準。由于數(shù)據(jù)傳輸速率越來越高，因此工程師需要可執(zhí)行更高帶寬測量的工具、對于示波器帶寬的要求越來越高。安捷倫科技公司于2010 年 4 月 27 日宣布推出 Infiniium DSA-X 90000 系列示波器產品，該系列示波器具有業(yè)界領先的 32 GHz 實時帶寬，同時具有業(yè)界最低的本底噪聲和本底抖動測量本底，能夠確保卓越的測量精度。本專題將為您詳細介紹這一款劃時代的創(chuàng)新產品，以及安捷倫的專利磷化銦（InP）集成電路制程及獨有的氮化鋁封裝技術。本專題中，您將還會看到安捷倫科技最新的示波器產品以及數(shù)字測試的解決方案。

射頻與微波測試的巨大變革 - 全新X-Series信號分析與產生平臺

信號分析儀（頻譜儀）與信號發(fā)生器是研發(fā)和生產工程師最常用的儀表工具之一。安捷倫秉承MXA、EXA 信號分析儀的快速、可靠、靈活優(yōu)勢，于2009 年10 月份同時又推出了兩款最新信號分析儀：業(yè)界最寬分析帶寬和最低底噪的N9030A PXA，以及最經濟最實用的N9000A CXA，分別針對高端用戶和經濟型用戶。另外，安捷倫MXG N5182A，ESG E4438C和 E8267D等高性能的信號發(fā)生器也將會幫助您在生產與研發(fā)過程中，節(jié)約成本，加快進度并逐步縮小與對手的差距。所有安捷倫X 系列平臺產品都具有豐富的應用測試功能、信號分析功能和靈活的輸入輸出接口，如相位噪聲測量、噪聲系數(shù)測量、EMC 檢測、無線通信矢量信號分析等，幫助您加快進行產品的測試和開發(fā)，為您在前進道路上掃清障礙。

讓現(xiàn)場測試簡單起來 – 全新7GHz手持頻譜儀

為了滿足各種工程現(xiàn)場和便攜測試的需要，安捷倫提供了一系列高性價比的手持式儀表，從手持式電纜天線測試儀、手持式頻譜分析儀到手持式矢量網絡分析儀，安捷倫為您的測試提供更多更靈活的選擇。如今安捷倫手持頻譜儀家族又添新成員！全新7GHz手持頻譜儀N9342C帶來的不僅僅是頻率上的擴展，更提供了數(shù)項測試新功能，包括內置GPS接收機和業(yè)界唯一的測試管理器Task Planner。來看看安捷倫N9342C手持頻譜儀是如何讓現(xiàn)場測試簡單起來！

后3G時代的技術革命與測量面臨的挑戰(zhàn)

作為4G標準的有力爭奪者，WiMAX在過去幾年中得到了高速發(fā)展。WiMAX在滿足無線寬帶業(yè)務日益增長方面以及成本效益方面，被業(yè)界認為是一種遠優(yōu)于3G的技術。然而，LTE技術的出現(xiàn)與發(fā)展，也受到了運營商的歡迎，在LTE市場，盡管LTE在技術與市場發(fā)展方面晚于WiMAX，但是LTE近年兩年的發(fā)展已呈現(xiàn)趕超WiMAX之勢。事實上，WiMAX與LTE同時存在于市場，可以通過互相配合與協(xié)同工作，為運營商網絡建設與業(yè)務發(fā)展提供最有利的技術組合，以滿足運營商對特定業(yè)務與消費者高帶寬應用需求。本課題將向您介紹WiMAX和LTE的技術特點已經測試中面臨的挑戰(zhàn)，安捷倫會幫助你實現(xiàn)最新產品的設計與應用。

個人移動終端的飛速變革和測試面臨的挑戰(zhàn)

無線通信技術日新月異，芯片廠商和手機設計廠商在他們的產品中逐漸集成CDMA2000/1xEV-DO、EDGE、W-CDMA/HSPA+、TD-SCDMA、CMMB等技術。這些技術非常復雜，并且為終端用戶提供的服務更加靈活多樣，因此就要求手機設計公司在將產品交付生產之前，對產品的應用性能進行完備的測試。安捷倫以8960/E5515C無線通信綜合測試儀為主體，以及相關測試應用軟件（Test Application），給客戶提供了基站仿真能力和可靠、準確、穩(wěn)定和快速的手機發(fā)射機，接收機的校準和測試能力。在終測方面，根據(jù)測試標準提供了豐富的測試項目，因而被廣泛用于手機研發(fā)、手機主板生產、手機天線研發(fā)及GPS、CMMB無線模塊等研發(fā)生產領域，本專題將針對這些測試一一給您做出解答。

安捷倫LTE吞吐量測試的集成方案

LTE技術的出現(xiàn)，無論對于系統(tǒng)廠商還是測試廠商，都帶來了前所未有機遇與挑戰(zhàn)。與以往2G/3G時代不同，LTE標準化組織對于接收機的測試也提出了新的要求。本專題將以安捷倫業(yè)界領先的信號發(fā)生器MXG和信號分析儀MXA為基礎，結合SystemVue 2010 中 LTE library 庫，為您闡述在LTE的eNB接收機吞吐量測試中所面臨的各種挑戰(zhàn)，以及安捷倫公司為應對挑戰(zhàn)而研制的全新的獨特的軟硬件結合的解決方案。

WiFi技術發(fā)展與802.11n的設計與驗證

無論是最新的B3G還是WLAN標準，為了提高傳輸數(shù)據(jù)的吞吐量和傳輸可靠習慣，各種先進的技術都采用了MIMO OFDM的通信技術，甚至引入了8階的MIMO（即8個發(fā)射機和8個接收機）以及先進的發(fā)射波束成型（beamforming）技術。本課題將帶您一起探討面臨這些技術時器件設計與測試的挑戰(zhàn)，同時將向您介紹802.11n和802.11ac WLAN的測試標準和指標需求，以及動態(tài)頻率選擇（DFS）預認證測試。

安捷倫新一代微波射頻電路測試解決方案

無論是無線通信技術，還是國防軍工領域，其最新發(fā)展對射頻微波元器件提出了越來越高的要求，微波電路在朝著小型化、大功率、集成化、批量化、低成本等方向發(fā)展，從而要求有與之相適應的、高可靠性、高可信度的測試手段。一直作為業(yè)界標桿的PNA-X微波網絡測試平臺又進一步將測試能力擴展到43.5GHz和50GHz。業(yè)界最高性能的PXA信號源分析儀以及輸出功率高達1瓦的大功率微波信號源在內的多種元器件測試方案更將使您的研發(fā)和生產工作如虎添翼、效率倍增。與此同時，越來越多的研發(fā)測試工程師希望用一臺更為通用的儀表來解決其日常工作中的器件的測試問題——不僅要測試射頻器件的 S 參數(shù)，還要測試低頻、非 50 歐姆器件的頻率響應特性。這種范圍更廣的測試在今天的高速數(shù)字電路、汽車電子、無線通訊等領域中越來越常見。安捷倫科技最新的 E5061B 的測試頻率從 5 Hz 開始，一直到 3 GHz，體積更是只有 E5071C 的一半，除了進行傳統(tǒng)的射頻 S 參數(shù)之外，還能對眾多的低頻器件的參數(shù)進行測試，是研發(fā)工程師在日常工作中首選的多功能低頻、射頻測試儀表。

安捷倫網絡儀助您決勝功放測試與非線性X參數(shù)測試

安捷倫科技全面的網絡測試儀器已逐漸成為業(yè)界翹楚，從器件測試生產到研發(fā)，從S參數(shù)到非線性器件設計，再到X參數(shù)器件模型和非線性矢量網絡測量，安捷倫網絡儀表可以以前所未有的測量速度和精確性對有源器件的特性予以充分的表征，大大加快有源器件的設計流程。PNA-X NVNA 可以完成非線性元件的特性描述，提取非線性 X 參數(shù)，顯示非線性脈沖包絡域，創(chuàng)建用戶定義的參數(shù)顯示方式，例如動態(tài)I/V 曲線，提取完整的輸入和輸出波形數(shù)據(jù)，以建立用戶定義的模型，并使用前面板圖形用戶界面(GUI)和遠程編程接口，快速、簡單地進行設置和測量。X 參數(shù)與 ADS 設計和仿真工具相結合，可以將設計迭代最小化、加快仿真速度，并可確定性地為有源器件的非線性行為特性建模。安捷倫的X參數(shù)是基于對被測件進行測量的行為模型，相對于傳統(tǒng)器件物理模型的數(shù)據(jù)參數(shù)表，它更可以完整表征器件的工作特性，并同時更好地保護器件的知識產權。

使用 Agilent E5061B 低頻-射頻網絡分析儀測量頻率響應

越來越多的研發(fā)測試工程師希望用一臺更為通用的儀表來解決其日常工作中的器件的測試問題——不僅要測試射頻器件的 S 參數(shù)，還要測試低頻、非 50 歐姆器件的頻率響應特性。這種范圍更廣的測試在今天的高速數(shù)字電路、汽車電子、無線通訊等領域中越來越常見。其中的應用之一就是對無所不在的開關電源的直流－直流變換器的環(huán)路特性和豪歐級的輸出阻抗測試。 安捷倫科技最新的 E5061B 的測試頻率從 5 Hz 開始，一直到 3 GHz，體積更是只有 E5071C 的一半，除了進行傳統(tǒng)的射頻 S 參數(shù)之外，還能對眾多的低頻器件的參數(shù)進行測試，是研發(fā)工程師在日常工作中首選的多功能低頻、射頻測試儀表。

針對40G/100G 光通信技術的測試方案

本專題主要針對40G 和 100G 市場需求以及其實施及挑戰(zhàn).，結合安捷倫測試解決方案:，介紹安捷倫最新的復雜相位調制光信號分析，PMD及PMD容限測試、眼圖波形分析測試以及光電及電光器件頻響測試的方法。

無線通信測試領域的數(shù)字測量方案的要訣

本專題介紹無線通信領域所涉及的數(shù)字測量的內容和安捷倫的測試方案，主要包括基站中的數(shù)字測試和手機中的數(shù)字測試。基站中的數(shù)字測試是介紹的重點，涉及射頻和中頻電路的數(shù)字測試，基帶和控制單元的數(shù)字測試，以及高速總線/接口的測試方案。針對手機，主要介紹新出現(xiàn)的HDMI1.4接口的測試和傳統(tǒng)的USB2.0接口的測試。

使用ADS/EMPro在產品設計階段進行信號完整性的虛擬測試

針對日益復雜的板級射頻系統(tǒng)的設計挑戰(zhàn)，安捷倫ADS 仿真軟件在統(tǒng)一的平臺下提供了系統(tǒng)級、電路級和電磁場級的仿真工具。從射頻系統(tǒng)的早期系統(tǒng)級指標開始，ADS 提供了精確且便捷的系統(tǒng)級指標分配仿真能力，而完整的時域/頻域/電磁場仿真器為電路設計提供了強大的工具支持，獨特的Ptolemy 數(shù)據(jù)流仿真環(huán)境又為射頻子系統(tǒng)的系統(tǒng)級指標驗證提供了業(yè)界唯一的數(shù)模聯(lián)合仿真環(huán)境。配合安捷倫的數(shù)字示波器等一系列硬件儀表，ADS 仿真軟件可以在產品設計階段對信號完整性進行虛擬測試，達到事半功倍的驗證，為射頻系統(tǒng)設計節(jié)約了大量的時間和成本。

接收機容限測試的精密和經校準的抖動生成

隨著數(shù)據(jù)速率越來越高，您的設計裕量越來越緊張。用于連接發(fā)射機和接收機的傳輸通道—特別是電路板—投入改進的嘗試努力相對來說較少。而芯片能力的改進一直在增加，一方面是因為成本的原因，芯片的功能改善成本少于改善PCB的成本；另一方面改善芯片可以使用原有的設備。以前更多的關注是在發(fā)送機端，現(xiàn)在是在接收機端。所以各主要標準組織都將接收機列為強制測試項目。這些關鍵測試中使用BERT（誤碼儀）和AWG（任意波形發(fā)生器）產生帶有損傷（抖動和電壓干擾）的信號對被測接收機進行加壓測試。這些儀器應該能夠靈活的產生各種信號應對不同的標準規(guī)范。為了在測試和特征化產品特性時得到可比較的結果及在必要的保證裕量而不至于丟失太多的裕量，這樣的信號損傷應使操作者簡單快速的控制，且產生的信號損傷應盡可能是可校準的。本專題將為您比較兩種不同的產生帶有損傷的數(shù)字信號的方案，并為您介紹如何在現(xiàn)場進行各種插入損傷的校準。您還將了解到如何針對不同應用的加壓測試實現(xiàn)對應的帶有損傷的信號。

應對HDMI/DisplayPort/USB3.0的線纜測量挑戰(zhàn)

USB技術從誕生之日發(fā)展至今，已經成為計算機領域中最為成功的接口技術，隨著高清視頻傳輸及大容量存儲需求，USB組織發(fā)布了USB3.0規(guī)范，總線速率達到5Gbps，總線架構也發(fā)生很大的改變，這對芯片及系統(tǒng)級的開發(fā)和驗證來說存在非常大的挑戰(zhàn)。隨著高清顯示技術的發(fā)展，HDMI幾乎已經成為電視、播放器及其它高清顯示設備的必備接口，DisplayPort接口也越來越被家電及計算機廠商所采納，最近非常熱門的3D顯示技術，也推動著HDMI，DisplayPort接口標準的進一步發(fā)展。本專題將介紹HDMI，DisplayPort，USB3.0標準的最新發(fā)展狀況，以及安捷倫提供的完整的線纜測試解決方案。