在第三代半導體材料火熱研究的今天，基于科研工作者和工程師對碳化硅器件知識技術的迫切需求，高遠傾心編著的新書《碳化硅功率半導體器件：特性、測試和應用技術》于2021年6月由機械工業(yè)出版社出版發(fā)行，6月底上市。

高遠現(xiàn)任泰科天潤半導體科技(北京)有限公司應用測試中心主任，曾在知名電源企業(yè)和功率半導體企業(yè)從事研發(fā)和技術工作。高遠致力于功率半導體器件測試、評估與應用技術的研究和推廣工作，特別對SiC功率器件有深入研究和深刻認知，精通器件測試設備和測量方法，致力于碳化硅功率器件市場應用推廣，被國際領先的測試解決方案供應商泰克科技聘為電源功率器件領域外部專家。

在多年的研究工作中，高遠深深地體會到掌握功率器件原理、測量方法與設備、相關應用技術對更好地開展相關研究和提升電源變換器性能具有重要意義，同時還了解到廣大科研人員和工程師對了解和掌握最新SiC器件相關知識和技術的迫切需求。本書正是在這種背景下編寫的，旨在幫助廣大讀者深入了解SiC器件的特性和測試方法，明確可能存在的應用技術挑戰(zhàn)并掌握應對措施。這樣既可以幫助科研工作者快速掌握本領域的最新重要成果，為科研工作提供堅實的基礎，還能夠幫助廣大工程師更好地應用SiC器件，推進行業(yè)的發(fā)展。

在章節(jié)設置、內(nèi)容選擇、表述方式、波形展示等方面做了大量的工作，力求內(nèi)容條例清晰，通俗易懂，能夠切實幫助讀者的學習和工作。首先，在進行知識講解時，注重為讀者搭建系統(tǒng)的知識框架，避免“只見樹木不見森林”。其次，在SiC器件應用挑戰(zhàn)的應對措施的講解中，不一味追求最新學術研究成果，而是選擇能夠實際應用的技術，切實解決SiC器件的應用問題。另外，書中使用了大量篇幅對測試設備、測試方法進行了詳細的講解，幫助功率器件和電力電子研究人員和工程師彌補測試技術這一短板。

同時，書中絕大多數(shù)波形采用實測結果，對應的分析和結論更加貼近實際應用，可直接用于指導應用設計，避免理論理想波形與實際測試波形之間的偏差所帶給讀者的困惑。最后，在每一章結尾給出了豐富的參考文獻和有價值的延伸閱讀資料，多為工業(yè)界應用手冊和具備工程應用前景的學術論文，兼顧前沿性與實用價值。

作為泰克科技電源功率器件領域外部專家，高遠也將參加2021年6月17日舉辦的泰克創(chuàng)新論壇之【超級實驗室之旅與大咖面對面】活動，暢談第三代半導體機遇與挑戰(zhàn)，現(xiàn)場進行多方互動與在線實測對比。

在第三代半導體大勢所趨的今天，希望該書為科研工作者、工程師們乘風破浪與快速向前，推波助瀾。

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