在剛剛過去的PCIM Aisa展會上，泰克展示了功率器件全新測試方案，包括動態特性解決方案、靜態特性解決方案、系統調試解決方案，整體解決方案助力工程師系統級優化設計。

當今功率半導體器件測試面臨相當大的挑戰，尤其是使用如碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)的先進材料制成的器件，通常這些新型器件的測試要求更高的電壓和功率水平，更快的開關時間以及從晶圓級到封裝器件的完整測試。高效率低功耗的功率器件對馬達控制電路和開關式電源等應用必不可少，對處理高功率和高電壓/高電流也不可或缺。作為新型功率器件材料，GaN和SiC迅速引起人們的關注，與硅相比，GaN 和SiC 擁有大量的優勢，包括：

•寬禁帶，高電介質擊穿電壓，高工作溫度
•高壓功能，低導通電阻w
•芯片尺寸更小
•能夠在高速度、高頻率下工作

然而，傳統差分探頭不足以覆蓋新的寬禁帶半導體的特性范圍的要求，新型功率器件測試存在諸多難點

• 你是否能準確測試高側門極電路？
• 你會用實際測試來驗證仿真結果嗎？
• 在測試中共模電壓會導致哪些測試問題？
• 你是否會用低側試數據來推斷高側測試結果？
• 你是否能夠優化你的設計以達到最大的效率呢?
• 在高側電阻測試是否遇到障礙?

|| 功率器件動態特性測試解決方案

泰克推出了IGBT Town功率器件動態參數測試，可支持單脈沖、雙脈沖及多脈沖測試方案，集成強大的發生裝置，數據測試裝置及軟件。用戶可以自定義測試條件，測試項目包含：Ton, Toff, td(on),td(off), tf(Ic), Eon,  Eoff, tr(Ic) ,di/dt, dv/dt, Err, qrr, Irr 基于IEC60747。

1）測試系統組成：

2）測試軟件：

軟件設定界面

測試圖

|| 功率器件靜態特性測試解決方案

吉時利高功率參數曲線跟蹤儀配置支持全系列器件類型和測試參數，包括特性分析工程師迅速開發完整的測試系統所需的一切。

開態測試

• 從fA 到100A
• 支持脈沖測試減少自熱效應
• 4線測試測量更低的導通電阻RdsOn

關態測試

• 從mV到3kV，1fA電流分辨率
• 過壓保護模塊確保低功率設備安全

CV(電容-電壓)測試

• 支持3KV CV測試功能
• 自動計算Ciss, Coss, Crss等典型參數

|| 新型功率器件系統調試解決方案

當今一些電源電子拓撲中包含的超快功率半導體開關技術（如SiC或GaN）極難進行優化。SiC MOSFET和GaN FET開關電源轉換器分析包是市場上唯一能夠準確檢定所有關鍵參數（用于優化采用SiC和GaN等技術的電源電子拓撲）的解決方案，其中包括:

• 高端和低端上的柵極電荷和柵極驅動性能
• 停滯時間優化，其中包括精確開機、關機和柵極驅動定時
• 高端和低端開關上的VGS、VDS 和ID 測量
• 開關損耗、傳導損耗和磁損耗分析

泰克為您提供整體解決方案，助您系統級優化設計。泰克測試方案：