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愛德萬針對移動設備推出兩套全新射頻測試模塊

2014-08-12 來源:微波射頻網 字號:

半導體測試設備領導者愛德萬測試(ADVANTEST CORPORATION)宣布推出兩套全新測試模塊:32端口WLS32-A模塊與16端口WLS16-A模塊,以滿足手機與無線LAN裝置內支持802.11ac及LTE-Advanced移動通信標準的射頻IC,對高速、低成本測試的需求。這兩套模塊完全兼容于愛德萬測試廣為業界所用的T2000平臺。

愛德萬針對移動設備推出兩套全新射頻測試模塊

為應對現今最先進可攜式電子產品所面臨的各種調變挑戰,這兩套新模塊采用矢量信號發生(VSG) 與矢量信號分析(VSA) 軟件,可提供80 MHz寬調變帶寬,并結合波形發生軟件與調變分析軟件,支持802.11ac與LTE-Advanced通信協議測試。

愛德萬測試SoC測試事業體執行長兼執行副總裁岡安俊幸表示,“這兩套新推出的模塊展現了我們不斷為客戶帶來更多元測試解決方案,協助他們以最低成本因應大量無線通信市場挑戰的努力。”

T2000平臺有著可擴充架構,無論任何半導體組件,客戶都可以隨時調整設定并更換模塊,因此能滿足當前與未來的測試需求,提供市面上其他測試系統受限于特定設備配置所沒有的優勢。T2000測試系統系列已廣為世界一流整合組件制造廠、IC設計公司、晶圓封測試代工廠等半導體設計制造大廠所采用。

T2000 WLS32-A與WLS16-A模塊計劃于今年第二季開始出貨。

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