“通電、觀察電流、輸出數(shù)據(jù)、各項(xiàng)性能指標(biāo)測(cè)試……一切正常！”日前，在中國(guó)航天科工三院33所八室ASIC試驗(yàn)室誕生了第一顆33所自主設(shè)計(jì)的ASIC芯片F(xiàn)DC3301。FDC3301的成功研制，標(biāo)志著33所電子技術(shù)領(lǐng)域從板級(jí)拓展到了芯片級(jí)，人才隊(duì)伍正由芯片的使用者向芯片的設(shè)計(jì)者轉(zhuǎn)變。

由于采用FPGA的傳統(tǒng)測(cè)頻方法無(wú)法滿足大動(dòng)態(tài)情況下對(duì)振梁加速度計(jì)輸出頻率信號(hào)高速采樣的要求，加之對(duì)國(guó)外芯片依賴較大，為改變現(xiàn)狀，33所積極創(chuàng)新，自主開(kāi)展了ASIC芯片的設(shè)計(jì)。該芯片主要用于完成振梁加速度計(jì)頻率信號(hào)的同步連續(xù)測(cè)量，可直接輸出被測(cè)信號(hào)浮點(diǎn)值頻率。其各項(xiàng)性能指標(biāo)均達(dá)到或超過(guò)了芯片規(guī)格書(shū)的要求，不僅實(shí)現(xiàn)了原有電路的芯片化集成，更重要的是其性能指標(biāo)得到了顯著的改善，量化噪聲降低了一個(gè)數(shù)量級(jí)，顯著提高了系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)特性。

ASIC芯片可應(yīng)于航空航天傳感器頻率測(cè)量，工業(yè)領(lǐng)域測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)等。芯片的研制成功，為33所在電子電路專業(yè)拓展新的發(fā)展空間奠定了堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。