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NI推出PXI示波器與LabVIEW抖動分析工具組

2013-03-05 來源:微波射頻網 字號:

新聞焦點

• NI PXIe-5162 示波器與NI LabVIEW 抖動分析工具組具有軟件定義功能,可提供傳統箱型示波器望塵莫及的彈性與客制化性能。

• 只要將4通道的NI PXIe-5162示波器搭配PXI平臺,即可通過單一機箱打造出高達68個通道的示波器,同時享有緊密的同步化功能。

NI美商國家儀器推出NI PXIe-5162示波器,以及LabVIEW抖動分析(Jitter Analysis)工具組的最新信息。這款示波器具有10位的垂直分辨率,取樣率則是5 GS/s,因此相較于傳統的8位示波器,高速測量的垂直分辨率可增加4倍之多。NI PXIe-5162的單一插槽具有1.5 GHz的帶寬與4個信道,極適合多信道數的示波器系統,可用來制造測試、研究、裝置特性描述。LabVIEW與LabVIEW抖動分析工具組可搭配這款示波器一起使用,此工具組具備優化的函式庫,可針對自動化的檢驗/生產測試環境,執行高傳輸率的抖動、眼圖(eye diagram) 與相位噪聲測量作業。

“NI PXIe-5162 示波器可執行高速、高分辨率、多信道數的測量作業,當傳統示波器的客戶在面對自動化測試時,可享有另一種有別于舊式箱型儀器的新選擇”,NI 模塊化儀器研發總監Steve Warntjes 指出,“如果把這款高速示波器搭配LabVIEW 抖動分析工具組一起使用,即可運用現代計算機的處理性能,舍棄箱型示波器的舊款嵌入式處理器,進而發揮測量系統的性能。”

NI PXIe-5162 的功能

• 10 位的垂直分辨率有助于深入掌握信號
• 單個3U PXI Express 插槽提供4 個通道,可在單一PXI 機箱內擴充至68 個通道
• 單一通道的取樣率最高可達5 GS/s,4 個通道的同時取樣率則是1.25 GS/s

LabVIEW 抖動分析工具組的功能

• 內部函數可提供頻率回復、眼圖、抖動、準位與時序測量等功能
• 范例程序可用于眼圖與屏蔽測試、隨機/精確抖動(RJ/DJ) 區隔,無論使用雙Dirac 與頻譜區隔方式皆可

主題閱讀: NI  PXI  示波器  LabVIEW  抖動分析
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