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近日消息 –吉時(shí)利儀器公司（NYSE：KEI），作為全球先進(jìn)電子測試儀器和系統(tǒng)的領(lǐng)先制造商，日前宣布半導(dǎo)體行業(yè)最經(jīng)濟(jì)有效的全自動化生產(chǎn)參數(shù)測試方案——S530參數(shù)測試系統(tǒng)產(chǎn)品線在幾個(gè)方面的性能提升。這些性能提升包括增加了吉時(shí)利新的高吞吐量開關(guān)主機(jī)用于高完整性的信號切換，探針卡上的完全開爾文測量提高低阻值準(zhǔn)確度、新的硬件保護(hù)模塊防止高靈敏度系統(tǒng)儀器受高電壓影響，以及齊全的“探測”系統(tǒng)規(guī)范和診斷工具。欲了解更多內(nèi)容，請觀看吉時(shí)利在線產(chǎn)品介紹：http://keithley.acrobat.com/p20663354/。
S530系統(tǒng)專門針對必須適應(yīng)各種產(chǎn)品組合或者在寬應(yīng)用靈活性和快速開發(fā)測試方案非常關(guān)鍵的生產(chǎn)參數(shù)測試環(huán)境進(jìn)行了優(yōu)化。S530測試儀采用成熟的源-測量技術(shù)和高保真度信號通路確保業(yè)界領(lǐng)先的測量準(zhǔn)確度和可重復(fù)性。
選擇兩種功能強(qiáng)大的參數(shù)測試配置
提供兩種不同配置的S530系統(tǒng)：低電流配置用于特性測量，例如亞閾值漏電、柵極漏電等；高電壓配置用于GaN、SiC和Si LDMOS功率器件所需的較困難的故障和漏電測試。S530低電流系統(tǒng)（2~8 SMU通道）提供亞皮安測量分辨率和低電流防護(hù)一直到探針引腳。S530高壓系統(tǒng)（3~7 SMU通道）帶有源-測量單元（SMU），能輸出1000V@20mA（20W最大值）。在合理配置下，S530系統(tǒng)能實(shí)現(xiàn)過程控制監(jiān)控、過程可靠性監(jiān)控和器件特性分析所需的全部DC和C-V測量應(yīng)用。
專為高度混合的測試環(huán)境下實(shí)現(xiàn)經(jīng)濟(jì)有效的操作優(yōu)化
在整個(gè)測試方案開發(fā)過程中，S530參數(shù)測試系統(tǒng)能及時(shí)向工程師提供反饋，因而加速并簡化了晶圓與測試方案的設(shè)置。例如，控制S530系統(tǒng)流水線測試方案開發(fā)的自動特性分析套件（ACS）軟件支持新的測試腳本進(jìn)行交互式測試并且在全自動模式下不影響吞吐量。ACS還提供離線式測試方案開發(fā)和測試結(jié)果分析。
功能強(qiáng)大的ACS軟件
與其它幾款成熟的吉時(shí)利測試系統(tǒng)一樣，S530系統(tǒng)也使用功能強(qiáng)大的ACS 4.3版本軟件，這加強(qiáng)了實(shí)驗(yàn)室與圓廠的聯(lián)系并加快了系統(tǒng)學(xué)習(xí)的速度。由于ACS在一個(gè)集成包中結(jié)合了全部自動參數(shù)測試所需的元素，因而使S530系統(tǒng)的效率和靈活性最大化。
業(yè)內(nèi)功能最強(qiáng)大的高電壓參數(shù)測試系統(tǒng)
所有S530系統(tǒng)都配備了高達(dá)20W源或阱能力（在200V和20V量程下）的高功率SMU，適于當(dāng)今移動設(shè)備中流行的高功率器件和電路的完整特性分析。無論在LDMOS Si測試還是在GaN BJT測試應(yīng)用中，更高的功率性能可以更加深入地了解器件性能。還能確保S530系統(tǒng)在測試高功率器件時(shí)不會影響監(jiān)控主流器件過程所需的低電流亞皮安級靈敏度。S530高壓系統(tǒng)是現(xiàn)有唯一一款能提供1kV到任何探針卡引腳（最多32引腳）的參數(shù)測試儀。它能在一次完成高電壓和低電流的靈敏測量，從而實(shí)現(xiàn)高功率器件準(zhǔn)確特性分析。此系統(tǒng)的高電壓SMU能輸出1000V@20mA（20W最大值）。
高度保真的信號通路提高測量完整性
每個(gè)S530測試系統(tǒng)都采用高性能開關(guān)矩陣和高度保真的信號通路以便在儀器和測試引腳之間直接傳送信號。通過設(shè)定電流和電壓上限并限定電流失調(diào)的低電平測量，這些通路的性能將直接影響測試系統(tǒng)整體的性能。S530具有8條高度保真的通路可用于儀器與引腳之間的動態(tài)連接。例如，每次最多能將8臺SMU連接至任意引腳（或一組引腳）。該低電流系統(tǒng)對于全部8條通路都具有一致的性能；高壓系統(tǒng)具有2條高壓/低漏電通路、4條通用通路和2條C-V通路。這兩種系統(tǒng)都支持最高2MHz的C-V測量。
S530參數(shù)測試系統(tǒng)內(nèi)建的全部源-測量單元（SMU）都基于吉時(shí)利產(chǎn)品質(zhì)量保障的儀器技術(shù)以確保較高的測量準(zhǔn)確度和可重復(fù)性并延長硬件的壽命。這些SMU是四象限源，所以能輸出或吸收（源或阱）電流或電壓。除了精密源電路外，這些SMU還包括全量程的可編程范圍（容限），這有助于防止因設(shè)備故障而損壞設(shè)備和探針尖。每臺SMU還能在源的同時(shí)測量電壓和電流，這確保參數(shù)計(jì)算反映了實(shí)際情況而不是設(shè)定的條件。
電容-電壓（C-V）單元選件
全部S530系統(tǒng)都能配備高速電容表用于在任意引腳進(jìn)行最高2MHz的C-V測量。此C-V單元在1MHz條件下能測量10pF電容并具有3%的準(zhǔn)確度。
產(chǎn)品質(zhì)量保障功能
S530參數(shù)測試系統(tǒng)包括豐富的產(chǎn)品質(zhì)量保障功能，包括內(nèi)建診斷、系統(tǒng)指標(biāo)至探針卡并兼容CE、SemiS2和S8等行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。ACS的“指令總線”控制接口簡化了選配定制用戶接口或工廠自動化主機(jī)控制器。
更多信息
要想了解更多有關(guān)S530信息，請點(diǎn)擊http://www.keithley.com.cn/products/semiconductor/parametrictestsys
關(guān)于吉時(shí)利公司
美國吉時(shí)利儀器公司擁有60多年的測試和測量的豐富經(jīng)驗(yàn)，已經(jīng)成為涵蓋從DC(直流)到RF(射頻)先進(jìn)的電子測量儀器和系統(tǒng)的行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)者。專為電子制造業(yè)對高性能的生產(chǎn)測試、工藝監(jiān)控、產(chǎn)品的研究與開發(fā)方面的特殊需要與挑戰(zhàn)，提供卓越的解決方案。憑借在電子測試研發(fā)領(lǐng)域的優(yōu)勢，吉時(shí)利儀器公司已經(jīng)成為一個(gè)在半導(dǎo)體、無線通訊、光電器件和其它精密電子測量領(lǐng)域世界級的測試技術(shù)領(lǐng)導(dǎo)者。吉時(shí)利儀器公司對客戶的核心價(jià)值在于：將先進(jìn)的精密測量技術(shù)與深入了解客戶應(yīng)用有機(jī)結(jié)合，從而幫助客戶提高產(chǎn)品質(zhì)量、產(chǎn)能與產(chǎn)量。
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