2010年10月13日消息，日前，日本National Instrument（NI）公司宣布已經將LTE測試技術成功地移植到其NI公司即將推出的LTE測量設備的RF測試產品模塊上。該LTE測量設備包括了PXI RF信號產生器和分析儀。NI公司工程師將攜該LTE測量設備亮相于2010年10月20日到21日在美國芝加哥舉行的2010 4G世界展覽會。

　　該設備主要用于測試3GPP LTE無線通信器件、子系統器件和移動通信基站。其先進的測試軟件軟件設計將為相關業內工程師在對產品性能進行自動評估和產品測試系統以及LTE相關產品提供快捷、靈活、精確的測試、測量方案。

　　該LTE測試測量設備是基于NI公司自動測試軟件和PXI模塊的一套測試系統。該系統包括新型NI LTE測試軟件、NI PXIe-5663E 6.6GHz矢量信號分析儀、NI PXIe-5673E 6.6GHz矢量信號產生器和一個PXI機架和控制器。該套設備中的硬件為測試工程師在測量前端RF和無線標準通信網絡，以及LTE和其他下一代標準網絡提供了有力幫助。

　　據悉，該LTE測試設備在測量網絡時能達到精確調制測量效果，其自動測試功能比傳統設備快3倍至5倍。

　　此外，該LTE測量系統設備還可與NI公司別的硬件和軟件產品相兼容，如與無線通信測試軟件嵌套對GSM/EDGE和WCDMA/HSPA+，以及固線和移動WiMAX、無線LAN、GPS、AM/FM和藍牙產品進行測量。