2010年10月13日消息，日前，日本National Instrument（NI）公司宣布已經(jīng)將LTE測試技術(shù)成功地移植到其NI公司即將推出的LTE測量設(shè)備的RF測試產(chǎn)品模塊上。該LTE測量設(shè)備包括了PXI RF信號(hào)產(chǎn)生器和分析儀。NI公司工程師將攜該LTE測量設(shè)備亮相于2010年10月20日到21日在美國芝加哥舉行的2010 4G世界展覽會(huì)。

　　該設(shè)備主要用于測試3GPP LTE無線通信器件、子系統(tǒng)器件和移動(dòng)通信基站。其先進(jìn)的測試軟件軟件設(shè)計(jì)將為相關(guān)業(yè)內(nèi)工程師在對(duì)產(chǎn)品性能進(jìn)行自動(dòng)評(píng)估和產(chǎn)品測試系統(tǒng)以及LTE相關(guān)產(chǎn)品提供快捷、靈活、精確的測試、測量方案。

　　該LTE測試測量設(shè)備是基于NI公司自動(dòng)測試軟件和PXI模塊的一套測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)包括新型NI LTE測試軟件、NI PXIe-5663E 6.6GHz矢量信號(hào)分析儀、NI PXIe-5673E 6.6GHz矢量信號(hào)產(chǎn)生器和一個(gè)PXI機(jī)架和控制器。該套設(shè)備中的硬件為測試工程師在測量前端RF和無線標(biāo)準(zhǔn)通信網(wǎng)絡(luò)，以及LTE和其他下一代標(biāo)準(zhǔn)網(wǎng)絡(luò)提供了有力幫助。

　　據(jù)悉，該LTE測試設(shè)備在測量網(wǎng)絡(luò)時(shí)能達(dá)到精確調(diào)制測量效果，其自動(dòng)測試功能比傳統(tǒng)設(shè)備快3倍至5倍。

　　此外，該LTE測量系統(tǒng)設(shè)備還可與NI公司別的硬件和軟件產(chǎn)品相兼容，如與無線通信測試軟件嵌套對(duì)GSM/EDGE和WCDMA/HSPA+，以及固線和移動(dòng)WiMAX、無線LAN、GPS、AM/FM和藍(lán)牙產(chǎn)品進(jìn)行測量。