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NB-IoT無法復用LTE測試儀表:測試驗證面臨多重挑戰

2016-09-09 來源:C114 作者:岳明 字號:

2014年5月,華為與沃達豐共同向GERAN提出窄帶技術NB M2M;2015年5月,融合高通所提出的NB OFDMA方案形成了NB CIoT;2015年9月,NB-LTE與NB-CIoT進一步融合形成NB-IoT。

NB-IoT標準于3GPP R13形成初稿,并于2016年6月份凍結。隨著NB-IoT標準協議的凍結,物聯網產業鏈上下游(運營商、設備商、芯片商、應用開發商與行業用戶)對NB-IoT技術寄予了深切的厚望。大家都希望NB-IoT的出現與規模應用,能夠化解物聯網市場碎片化的難題,促進物聯網市場的真正爆發。

網絡未動,測試先行,對于NB-IoT產業也同樣如此。TD產業聯盟在日前發布的《5G測試需求及熱點方案研究--NB-IoT專題》白皮書中就指出,相比于現在的LTE技術,NB-IoT的信道寬帶、雙工方式、無線信道類型、幀結構、資源分配方式等方面均發生了改變,相應的空閑模式流程、隨即接入、RRC連接管理、連接重配置、無線鏈路監測以及可能的重定向等流程也都進行了調整。

因此,在功能方面無法復用LTE測試儀表,需要將NB-IoT視為一項全新的技術進行測試,并覆蓋所有的協議功能點。而在RF性能方面,同樣將保持以往RAT測試涉及的各類發射機/接收機、解調等測試項目。

在外場組網測試及網規網優階段,NB-IoT單站的巨大終端接入量將導致無法使用實際終端進行多終端在網測試及優化,如何使用終端模擬器,模擬出處于不同小區位置、不同業務場景的終端,從而驗證網絡性能是NB-IoT測試將要面臨的一個挑戰。另外,由于NB-IoT終端部署的特性決定了其維護的困難,軟件缺陷使用傳統手機難以修復,全系統的穩定性測試如何開展,現網問題如何修正,是另一個測試及檢測挑戰。

不僅僅是在技術層面,在市場層面也面臨著挑戰,目前可將NB-IoT測試規劃為PoC基本能力驗證、實驗室測試、外場測試三個階段。在各階段,需要網絡設備、終端設備、測試儀表等企業同步推出可測試樣機或商用產品。結合NB-IoT預期商用時間點一級整個產業進程,需盡快推出功能完善、性能穩定的測試儀表并形成統一的測試方案,促進各階段測試的順利完成。

主題閱讀: LTE測試  物聯網
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