超低相噪精密測試應(yīng)用關(guān)鍵技術(shù)（ADC/DAC測試、計量校準、三階交調(diào)失真測試、本振替代、鎖相環(huán)測試等）

會議簡介：

信號源對工程師來講都不陌生，面對待測件高頻、高速、高精度的特點，傳統(tǒng)的信號源已經(jīng)不能滿足測試的要求，怎樣幫助您快速精準測試呢？您希望擁有一個完全干凈純粹的信號源嗎？您有了解過晶振級的微波源嗎？中星聯(lián)華攜SLFS-Pro超低相噪微波信號源來襲，助力超純凈、超精密測試！

精益求精，源為心動。本次直播將揭秘精密測試關(guān)鍵技術(shù)，詳細講解中星聯(lián)華超低相噪微波信號源的6大核心特色，如何助力6大應(yīng)用領(lǐng)域，將集中講解ADC/DAC 測試、計量校準、三階交調(diào)失真測試、本振替代、鎖相環(huán)測試、SLFS-Pro 信號源自動化編程等內(nèi)容，并進行現(xiàn)場demo演示，幫助工程師進行精準測試，解決尖端測試的苛刻要求，使測試更加精準。

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