網(wǎng)站首頁 > 資料查詢 > 白皮書/應(yīng)用筆記 > 測試測量
| 資料語言： | 簡體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
| 瀏覽次數(shù)： | 0 |
| 評論等級： | |
| 更新時間： | 2014-08-20 23:13:02 |
| 資料查詢： | 您可以通過企業(yè)官網(wǎng)、京東、出版社等官方渠道下載或購買。 |
Cascade Microtech 公司是包括集成電路 (IC)、芯片、電路板、模塊、MEMS、3D TSV、LED 器件等在內(nèi)的先進半導體器件的精密電氣測量及測試領(lǐng)域中的全球領(lǐng)導者。我們的工程用探針臺和分析用探針廣泛應(yīng)用于復雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時間和器件制造工藝的成本。我們最先進的量產(chǎn)用測試產(chǎn)品包括獨特的探針卡、測試插座和 ATE 接觸器，可降低高速及高密度半導體芯片的制造成本。
在我們已有的 800 家客戶當中，網(wǎng)羅了全球 20 家銷售收入最大的半導體制造商。這些客戶采用我們的產(chǎn)品來進行眾多器件的工程和量產(chǎn)測試，包括數(shù)字信號處理器、電信芯片、高級存儲器芯片、微處理器、微控制器、圖形處理器和專用集成電路的測試。我們所提供的精密測量能力使得全世界的半導體公司都能夠跟上摩爾定律，并以更快的速度和更低的價格向市場投放其產(chǎn)品。
Cascade Microtech 公司源自于 Eric Strid 和 Reed Gleason 在 1983 年開發(fā)第一個微波晶圓探針時的合作。在 1983 年以前，對于某款特定設(shè)計之所以奏效的原因，高速 IC 的設(shè)計人員只能夠進行推測。當時無法在晶圓級上對這些微波電路的實際電氣性能進行測量。通過運用 Cascade Microtech 革新性的晶圓上探測解決方案，在 IC 被切割和封裝之前，設(shè)計工程師們就可以在晶圓級上進行電路的實際測試及特性分析。這實現(xiàn)了研發(fā)時間的減半，并降低了開發(fā)新型芯片的巨額成本。自此之后，Cascade Microtech 的晶圓上探測技術(shù)便成為了一項業(yè)界標準。
溫馨提示：本站不提供資料文件下載，僅提供文件名稱查詢，如有疑問請聯(lián)系我們。
粵公網(wǎng)安備 44030902003195號