基于TRL校準(zhǔn)的封裝式晶體管噪聲參數(shù)測(cè)試
| 資料語(yǔ)言： | 簡(jiǎn)體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
| 瀏覽次數(shù)： | 0 |
| 評(píng)論等級(jí)： | |
| 更新時(shí)間： | 2013-04-10 10:34:14 |
| 資料查詢： | 您可以通過(guò)企業(yè)官網(wǎng)、京東、出版社等官方渠道下載或購(gòu)買。 |
測(cè)試夾具一直是封裝式晶體管噪聲參數(shù)測(cè)試的難點(diǎn)，本文詳細(xì)介紹了基于PCB板材如何設(shè)計(jì)測(cè)試夾具和TRL校準(zhǔn)件，并且對(duì)制作的測(cè)試夾具和TRL校準(zhǔn)件從時(shí)域和頻域作了全面的校驗(yàn)。此外，本文還全面介紹了基于安捷倫公司高性能矢網(wǎng)PNA-X的全新的噪聲參數(shù)測(cè)試方案，這種方案設(shè)置更簡(jiǎn)單，測(cè)試速度更快，精度更高。
溫馨提示：本站不提供資料文件下載，僅提供文件名稱查詢，如有疑問(wèn)請(qǐng)聯(lián)系我們。
粵公網(wǎng)安備 44030902003195號(hào)