安捷倫全新八通道信號(hào)分析系統(tǒng)完美應(yīng)對(duì)TD-LTE雙流波束賦形測(cè)試挑戰(zhàn)
| 資料語(yǔ)言： | 簡(jiǎn)體中文 |
| 資料類(lèi)別： | PDF文檔 |
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| 更新時(shí)間： | 2013-04-07 14:53:35 |
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雙流波束賦形概念在 3GPP Release9 的 LTE 標(biāo)準(zhǔn)中提出來(lái)，同時(shí)也是 TD-LTE 標(biāo)準(zhǔn)中最為重要的關(guān)鍵技術(shù)之一。它的提出，主要是為了解決多天線條件下，如何有效提升系統(tǒng)吞吐率，以及在 TD-LTE 同頻組網(wǎng)情況下，如何解決小區(qū)邊緣用戶(hù)由于同頻干擾而導(dǎo)致吞吐率下降的難題。本文將在闡述雙流波束賦形原理的基礎(chǔ)上，重點(diǎn)講述 TD-LTE 雙流波束賦形技術(shù)的測(cè)試難點(diǎn)和挑戰(zhàn)，并詳細(xì)介紹安捷倫公司針對(duì)該技術(shù)特點(diǎn)而最新推出的八通道雙流波束賦形測(cè)試解決方案。
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