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LDMOS器件參數(shù)測(cè)試詳解

2016-08-15 我要評(píng)論(0) 字號(hào):
主題資源: LDMOS
資料語(yǔ)言: 簡(jiǎn)體中文
資料類別: Office文檔
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評(píng)論等級(jí):
更新時(shí)間: 2016-08-15 09:23:09
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LDMOS器件參數(shù)測(cè)試詳解

資料簡(jiǎn)介

LDMOS是在高壓功率集成電路中常采用高壓LDMOS滿足耐高壓、實(shí)現(xiàn)功率控制等方面的要求,常用于射頻功率電路。LDMOS能經(jīng)受住高于雙極型晶體管3倍的駐波比,能在較高的反射功率下運(yùn)行而沒(méi)有破壞LDMOS設(shè)備;它較能承受輸入信號(hào)的過(guò)激勵(lì)和適合發(fā)射射頻信號(hào),因?yàn)樗懈呒?jí)的瞬時(shí)峰值功率。LDMOS增益曲線較平滑并且允許多載波射頻信號(hào)放大且失真較小。LDMOS管有一個(gè)低且無(wú)變化的互調(diào)電平到飽和區(qū),不像雙極型晶體管那樣互調(diào)電平高且隨著功率電平的增加而變化。

一、LDMOS器件電學(xué)特性在線測(cè)試

1、閾值電壓測(cè)試
2、擊穿電壓測(cè)試
3、輸出特性測(cè)試

二、LDMOS器件負(fù)載牽引阻抗參數(shù)測(cè)試

1、負(fù)載牽引測(cè)試系統(tǒng)的構(gòu)成
2、TRL校準(zhǔn)
3、LDMOS器件阻抗參數(shù)測(cè)試

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