GB/T 21039.1-2007 半導(dǎo)體器件 分立器件 第4-1部分:微波二極管和晶體管 微波場(chǎng)效應(yīng)晶體管空白詳細(xì)規(guī)范
資料語(yǔ)言: | 簡(jiǎn)體中文 |
資料類別: | PDF文檔 |
瀏覽次數(shù): | 0 |
評(píng)論等級(jí): | |
更新時(shí)間: | 2013-06-22 09:21:21 |
資料查詢: | 您可以通過(guò)企業(yè)官網(wǎng)、京東、出版社等官方渠道下載或購(gòu)買。 |

- 標(biāo)準(zhǔn)編號(hào):GB/T 21039.1-2007
- 標(biāo)準(zhǔn)名稱:半導(dǎo)體器件 分立器件 第4-1部分:微波二極管和晶體管 微波場(chǎng)效應(yīng)晶體管空白詳細(xì)規(guī)范
- 行業(yè)分類:國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)(GB)
- 中標(biāo)分類:半導(dǎo)體二極管(L41)
- ICS分類:31.080.30
- 標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介:本部分等同采用IEC 60747-4-1:2000《半導(dǎo)體器件 分立器件 第4-1部分:微波二極管和晶體管 微波場(chǎng)效應(yīng)晶體管空白詳細(xì)規(guī)范》。本空白詳細(xì)規(guī)范是半導(dǎo)體器件的一系列空白詳細(xì)規(guī)范之一,具體內(nèi)容包括:機(jī)械說(shuō)明;簡(jiǎn)要說(shuō)明;質(zhì)量評(píng)定類別;極限值;電特性;標(biāo)志;訂貨資料;試驗(yàn)條件和簡(jiǎn)要要求等。
- 英文名稱:Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification
- 發(fā)布部門:中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)
- 發(fā)布日期:2007-06-29
- 實(shí)施日期:2007-11-01
- 首發(fā)日期:2007-06-29
- 提出單位:信息產(chǎn)業(yè)部
- 歸口單位:全國(guó)半導(dǎo)體分立器件標(biāo)準(zhǔn)化分技術(shù)委員會(huì)
- 主管部門:信息產(chǎn)業(yè)部(電子)
- 起草單位:中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
- 起草人:羅發(fā)明、劉春勛
- 計(jì)劃單號(hào):20030156-T-339
- 頁(yè)數(shù):平裝16開(kāi) 頁(yè)數(shù):14, 字?jǐn)?shù):22千字
- 出版社:中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)出版社
- 出版日期:2007-11-01
溫馨提示:本站不提供資料文件下載,僅提供文件名稱查詢,如有疑問(wèn)請(qǐng)聯(lián)系我們。