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| 資料語言： | 簡體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
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| 更新時間： | 2015-08-20 18:41:56 |
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祝寧華 王幼林 陳振宇(中國科學院半導體研究所集成光電子學國家重點實驗室，北京100083)
對微波網(wǎng)絡分析儀和測試夾具的校準方法和校準過程經(jīng)常出現(xiàn)的問題進行了介紹．從提高校準精度的角度，針對不同的測試端口和相應的校準標準，提出了選取校準方法和運算方法的準則，同時給出了解決這些問題和提高校準精度的具體建議．發(fā)現(xiàn)并通過實驗驗證直通標準得到的4個方程能夠同時使用，并可以獲得精確的結果．實驗中，觀察到對同一校準方法，采用不同的運算方法可能導致頻率限制問題的出現(xiàn)．
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