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| 資料語言： | 簡體中文 |
| 資料類別： | PDF文檔 |
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| 更新時(shí)間： | 2014-08-26 22:19:04 |
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1．韶關(guān)學(xué)院電子系 周永明，廣東韶關(guān)512005；2．華南理工大學(xué)電子與信息學(xué)院 賴曉錚 ， 賴聲禮，廣東廣州510640
為縮減射頻標(biāo)簽用縫隙天線的尺寸，提高標(biāo)簽芯片與縫隙天線的匹配性能，提出了射頻標(biāo)簽用非對稱縫隙天線．給出了非對稱縫隙天線的阻抗隨縫隙的長度和彎折角度的變化曲線．嘗試將非對稱縫隙天線與Philips公司提供的標(biāo)簽測試芯片進(jìn)行阻抗匹配，制作了相應(yīng)的實(shí)物天線，仿真與測試結(jié)果說明所設(shè)計(jì)的天線基本能滿足RFID標(biāo)簽應(yīng)用要求．
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